8-800-700-65-89 пн-пт с 7:00-16:00 по Мск

Каталог
Подборка
Заявки
Черновик заявки
Каталог
Подборка
Заявки
Черновик заявки
Каталог

Тестовый сокет QFN28-0.5 (4×4 мм) для программирования и тестирования микросхем

Перевод осуществлен автоматически
Цена
$355.70
29378.28 руб.
Партия
от ≥1
Тестовый сокет QFN28-0.5 (4×4 мм) для программирования и тестирования микросхем
Выбрать варианты
Цена
$355.70
29378.28 руб.
Партия
от ≥1
Вариант
Индивидуальное тестовое гнездо для измерительного зонда из сплава QFN28-0,5 (4*4)
$355.70
29 378,28
руб.
 ₽
Доступно 100
–
+
0 / 255
Еще варианты
0 / 255
Количество:
0 шт.
Итого
ИТОГО:
$0.00
0.00 руб.
Добавить в черновик заявки
Добавить в подборку
  • Описание

  • Характеристики

  • Похожие предложения

Описание предложения

Профессиональный тестовый сокет для микросхем QFN28

Специализированный тестовый сокет предназначен для программирования, тестирования и температурного старения микросхем в корпусе QFN28 с шагом выводов 0.5 мм. Идеальное решение для сервисных центров, производителей электроники и инженеров-разработчиков.

Ключевые особенности

  • Ручная откидная конструкция для удобства эксплуатации
  • Равномерное давление на кристалл без смещения
  • Игольчатые контакты прокалывают оксидный слой для надежного соединения
  • Высокоточные направляющие для точного позиционирования микросхемы
  • Плавающая плата позволяет тестировать чипы с шариковыми выводами и без
  • Сменные контакты для легкого обслуживания
  • Минимальный шаг контактов: 0.35 мм
  • Срок поставки: от 7 дней

Технические характеристики

  • Тип корпуса: QFN28pin
  • Размер чипа: 4.0×4.0 мм
  • Шаг выводов: 0.5 мм
  • Толщина чипа: 0.85 мм
  • Рабочая температура: -40°C до +145°C
  • Конструкция: сплавная откидная крышка с игольчатыми контактами
  • Материал изолятора: PEI (полиэфиримид)

Области применения

Сокет предназначен для программирования, функционального тестирования и температурного старения микросхем в условиях производства, сервисного обслуживания и разработки. Поддерживает требования военной промышленности к трехтемпературному старению.

Рекомендации по эксплуатации

  • Для очистки используйте сжатый воздух и мягкую кисть
  • При загрязнении обрабатывайте контакты безводным спиртом
  • При повреждении контактов заменяйте весь сокет
  • При длительном хранении защищайте от пыли антистатической упаковкой

Часто задаваемые вопросы

Можно ли заказать сокет для другого типа корпуса?

Да, мы изготавливаем тестовые сокеты для BGA, LGA, CSP, QFN, DFN, QFP, PLCC, LCC, SOT, SOP, TSSOP, SSOP, TSOP, TO, DIP и других типов корпусов по индивидуальным параметрам.

Какой срок службы тестового сокета?

При правильной эксплуатации и регулярном обслуживании сокет выдерживает более 100 000 циклов тестирования. Сменные контакты позволяют продлить срок службы устройства.


ТН ВЭД ЕАЭС: 8536901000
Бренд
HMILU
модель
Стареющее гнездо/тестировая розетка
Разнообразие
тестовая розетка
Материал изолятора
PEI
Технические характеристики
Индивидуальное тестовое гнездо для измерительного зонда из сплава QFN28-0,5 (4*4)
Электронные компоненты
Тест IC интегральной схемы
Мы используем cookie-файлы для наилучшего представления нашего сайта. Продолжая использовать этот сайт, вы соглашаетесь с использованием cookie-файлов.